電子科技大學(xué)李嚴波教授團隊在Nature Communications(自然-通訊)期刊上發(fā)表了最新研究成果“Interface engineering of Ta3N5 thin film photoanode for highly efficient photoelectrochemical water splitting"。
團隊通過(guò)對氮化鉭(Ta3N5)薄膜進(jìn)行界面修飾,并將這種高效的界面修飾方法與NiCoFe-Bi產(chǎn)氧助催化劑相結合,In:GaN/Ta3N5/Mg:GaN薄膜光陽(yáng)極光電轉換效率達到了3.46%,最高光電轉化效率。其中我公司代理的XES-40S3-TT光催化專(zhuān)用AA*太陽(yáng)光模擬器在研究過(guò)程中提供了有效的幫助。
主要內容
先進(jìn)的界面修飾工程不僅可以提高器件的光電轉換效率,還可以提高器件的穩定性。文中對Ta3N5薄膜光陽(yáng)極的Ta3N5/電解液界面和Ta3N5/背電極界面同時(shí)進(jìn)行界面修飾,大幅提高光電轉換效率,同時(shí)實(shí)現了較長(cháng)時(shí)間的穩定光電催化。本文使用“一步高溫氮化法",將電子束蒸發(fā)和原子層沉積兩種方法相結合,制備了“三明治結構"的薄膜光陽(yáng)極In:GaN/Ta3N5/Mg:GaN。
In:GaN/TTa3N5/Mg:GaN薄膜光陽(yáng)極的制備流程示意圖
本文通過(guò)PL測試表明,Mg:GaN和In:GaN層可以起到表面鈍化作用,降低Ta3N5薄膜中的缺陷濃度。本文通過(guò)電化學(xué)測試表明,這種界面修飾方法減少了由于表面態(tài)缺陷引起的費米能級釘扎作用,降低了光陽(yáng)極器件的起始電位。最后將這種高效的界面修飾方法與NiCoFe-Bi產(chǎn)氧助催化劑相結合,In:GaN/Ta3N5/Mg:GaN薄膜光陽(yáng)極光電轉換效率達到了3.46%,最高光電轉化效率!
In:GaN和Mg:GaN層在In:GaN/Ta3N5/Mg:GaN薄膜中的作用
文中提到使用太陽(yáng)光模擬器(SAN-EI ELECTRIC,XES-40S3-TT)模擬陽(yáng)光,強度校準為 100 mW cm-2 (AM1.5 G) ,既用于樣品長(cháng)時(shí)間沉積,又用于PEC測試。
XES-40S3-TT光催化專(zhuān)用AA*太陽(yáng)光模擬器
技術(shù)參數:
氙燈功率:150W
有效照射面積:40mm*40mm
光譜不匹配性:<±25% AM1.5G *
光強不穩定性:<1% *
光強不均勻性:<2% *
氙燈壽命:2000小時(shí)
快門(mén)控制器:Twin time全自動(dòng)控制
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