目前III-V族化合物襯底費用普遍偏高,許多技術(shù)由此受到了其成本的限制。因此,能夠重復使用原始襯底是一種可行的解決方法,但現有的襯底再利用技術(shù)存在明顯缺陷。在這篇文章中,研究人員討論了一種通過(guò)分子束外延在常用(001)GaAs襯底上沉積水溶性NaCl薄膜的新方法。利用原位電子束和低溫成核層,在連續的NaCl層上生長(cháng)單晶GaAs模板。模板層可以通過(guò)NaCl的溶解而從襯底上快速去除,Lift-off(剝離工藝)后的原始晶片rms表面粗糙度僅增加了0.2nm。
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1. kSA BandiT實(shí)時(shí)襯底溫度測試儀 是一種非接觸、實(shí)時(shí)測量半導體襯底表面溫度的測試系統,采用半導體材料吸收邊隨溫度的變化的原理,實(shí)時(shí)測量晶片/襯底的溫度。
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