自鋰離子電池出現以來(lái)，其理論容量及應用潛力仍尚未實(shí)現。這主要是由于在電極結構的設計和構建方面依然存在挑戰，使其整個(gè)內部空間能夠可逆地用于離子存儲。由相同材料和相同規格構建的電極，僅在組成晶粒的尺寸和幾何形狀方面有所不同，但在極化、應力積累和容量衰減方面會(huì )表現出明顯的差異。

在這篇文章中，研究團隊使用操作同步加速器X射線(xiàn)衍射和能量色散X射線(xiàn)衍射（EDXRD），探討了V2O5作為模型相變陰極中鋰化誘導相變的顯著(zhù)晶粒幾何相關(guān)修飾機制起源。觀(guān)察到相共存狀態(tài)的顯著(zhù)調制是晶粒幾何形狀的函數。具體而言，納米尺寸的球形V2O5晶粒穩定了亞穩相，以避免形成大的失配應變。

空間分辨EDXRD測量表明，晶粒幾何形狀強烈地改變了多孔陰極結構的曲率。在包括微米大小的薄片電極結構中，更大的離子傳輸限制導致電極厚度上鋰化不均勻性。這些結果確立了粒子幾何對亞穩相區和電極曲率的修正可作為實(shí)現插層陰極的關(guān)鍵設計原則。

其中使用巨力光電代理的kSA MOS 原位薄膜應力測量系統 (k-Space Associates)進(jìn)行實(shí)時(shí)應力測量，監測襯底曲率的變化。MOS測量檢測電極襯底背面曲率的變化，從樣品表面反射并捕獲平行激光束陣列在CCD相機上。

產(chǎn)品推薦

1. kSA MOS 原位薄膜應力測量系統 采用非接觸激光MOS技術(shù)，不但可以對樣品表面應力分布進(jìn)行統計分析，而且還可以進(jìn)行樣品表面二維應力、曲率成像分析。您可自行定義選擇使用任意一個(gè)或者一組激光點(diǎn)進(jìn)行測量，并且這種設計始終保證所有陣列的激光光點(diǎn)始終在同一頻率運動(dòng)或掃描，從而有效的避免了外界振動(dòng)對測試結果的影響，同時(shí)提高了測試的分辨率，適合各種材質(zhì)和厚度薄膜應力分析。

2. kSA ACE 原位MBE束流監測系統 是一種高靈敏度的在線(xiàn)原位原子束流監測設備，它利用原子吸收光譜的原理來(lái)測量對應原子種類(lèi)的通量率。該設備可實(shí)時(shí)原位檢測原子束流密度、生長(cháng)速率，實(shí)現對薄膜成分精確控制。

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