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          技術(shù)文章
          
          
          首頁(yè) > 技術(shù)中心 > 光學(xué)串擾對色彩飽和度、色域的影響：使用Setfos+Laoss軟件仿真
          
          
          
			        
          
       	  
          光學(xué)串擾對色彩飽和度、色域的影響：使用Setfos+Laoss軟件仿真
          
           
          
  　更新時(shí)間：2022-10-20　點(diǎn)擊量：1294
         
          
          
          
          
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          主要內容
          本文對高分辨率全色有機發(fā)光二極管（OLED）微顯示中子像素之間光串擾引起的色域變化進(jìn)行了研究。隨著(zhù)面板的像素密度從每英寸100像素（PPI）增加到3000像素，OLED微顯示的色域急劇下降。此外，底部電極和頂部濾色層之間鈍化層厚度的增加導致色域降低。研究團隊還根據實(shí)際OLED微顯示面板中的像素結構計算了色域變化，該面板的縱橫比為32：9，像素密度為2490PPI。由于光學(xué)串擾效應，柵欄角度和高度、鈍化層的折射率、Black matrix寬度和白色OLED器件結構都會(huì )影響OLED微顯示的色域。研究團隊使用Setfos太陽(yáng)能電池模擬仿真軟件和Laoss太陽(yáng)能電池組件仿真軟件進(jìn)行光學(xué)模擬。為了進(jìn)行光學(xué)串擾仿真，使用Setfos軟件模擬了EL光譜，且與實(shí)測EL光譜匹配很好；Laoss軟件仿真獲得了R和G CFs角度相關(guān)的反射率和透射率。

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          產(chǎn)品推薦-Setfos模擬仿真軟件
          Setfos用于各種類(lèi)型太陽(yáng)能電池（包括鈣鈦礦、有機、疊層、硅基電池等）、鈣鈦礦LED、OLED器件及相關(guān)光電材料性能的仿真系統，對器件設計、構建、光學(xué)性能、電學(xué)性能以及光電材料的性能進(jìn)行模擬計算和優(yōu)化。（點(diǎn)擊訪(fǎng)問(wèn)）

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          產(chǎn)品推薦-Laoss大面積OLED面板/薄膜太陽(yáng)能電池組件仿真軟件
          Laoss是一款用于設計、構建、仿真、優(yōu)化鈣鈦礦/有機太陽(yáng)能電池組件和OLED面板，對其熱學(xué)、光學(xué)和電學(xué)性能進(jìn)行仿真的軟件。對于提高面板和組件效率、優(yōu)化其性能、縮短研發(fā)周期、節省材料成本等有著(zhù)具大的幫助。（點(diǎn)擊訪(fǎng)問(wèn)）


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          文獻信息
          Color gamut change by optical crosstalk in high-resolution organic light-emitting diode microdisplays
          Soobin Sim, Jinha Ryu, Dae Hyun Ahn, Hyunsu Cho, Chan-mo Kang, Jin-Wook Shin, Chul Woong Joo, Gi Heon Kim, Chun-Won Byun, Nam Sung Cho, Hyoc Min Youn, Young Jae An, Jin Sun Kim, Hanyung Jung, and Hyunkoo Lee