帶你了解OLED光譜分析系統的構成和優(yōu)勢
更新時(shí)間：2022-09-09 點(diǎn)擊量：1179
OLED光譜分析系統用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其其他發(fā)光器件的發(fā)射光譜特性和極化角，同時(shí)也可測量器件的s和p偏振光譜、發(fā)射光譜與角度的關(guān)系，計算出發(fā)射層中激子的發(fā)光角度及位置分布。 一、OLED光譜分析系統優(yōu)勢:
1)可測量單只0LED的色品坐標、色溫、顯色性指數、色容差、峰值波長(cháng)、主波長(cháng)、色純度、半寬度、色比、光譜分布、光通量、光輻射功率、溫度等參數，滿(mǎn)足CIE對光和顏色測量要求。
2)光譜掃描速度快(10S)。
3)系統能自動(dòng)描繪OLED的光通量/功率/電壓/電流隨時(shí)間的變化曲線(xiàn)(光衰)。
二、系統構成:
1)光譜分析系統軟件。
2)光譜分析系統。
3)光纖。
4)積分球。
5)通用標準光源(校準用)。
6)精密數顯直流穩流穩壓電源。
