日本SAN-EI太陽(yáng)光模擬器作為光源，在某種意義上說(shuō)，可以等同于太陽(yáng)光源，可以模擬太陽(yáng)光照射。太陽(yáng)模擬器廣泛應用于太陽(yáng)能電池特性測試，光電材料特性測試，生物化學(xué)相關(guān)測試，光學(xué)催化降解加速研究，皮膚化妝用品檢測，環(huán)境研究等。
判定日本SAN-EI 太陽(yáng)光模擬器光源質(zhì)量的三個(gè)重要指標。
1. 光譜匹配度
光譜匹配度的定義是模擬光分別在400-500nm、500-600nm、600-700nm、700-800nm、800-900nm和900-1100nm這6個(gè)光譜范圍內與真實(shí)太陽(yáng)光的匹配程度，用百分比來(lái)表示。根據數據的偏離情況對模擬器匹配程度的等級進(jìn)行劃分。
2. 輻照空間不均勻性
在測試區域的輻照度應達到一定的均勻度要求。計算方法為：不均勻度=（大輻照度-小輻照度）/（大輻照度+小輻照度）×100%。
光照均勻性是難達到和保持的一項指標，工作面積上的強光點(diǎn)會(huì )導致被測電池效率產(chǎn)生嚴重誤差，并導致電池分級錯誤。均勻度*的模擬器就能將這種強光點(diǎn)對產(chǎn)品的影響降到低，其空間均勻性嚴格控制于≤2%。
3. 輻照時(shí)間不穩定性
輻照穩定性是AA*標準的第三項性能參數指標，它要求模擬器的輸出光束長(cháng)時(shí)間保持穩定的照度以確保太陽(yáng)能電池效率測定的精確性。對于輻照不穩定性，還細分為長(cháng)期不穩定性（LTI）和短期不穩定性（STI），分別對應整個(gè)IV測試過(guò)程中輻照度的變化和取點(diǎn)過(guò)程中輻照度的變化。
