OLED光譜分析系統用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其其他發(fā)光器件的發(fā)射光譜特性和極化角，同事也可測量器件的s和p偏振光譜、發(fā)射光譜與角度的關(guān)系，計算出發(fā)射層中激子的發(fā)光角度及位置分布。
OLED光譜分析系統主要測試功能：
1、OLED效率測量/外量子效率EQE測量，流明效率Lm/W 和 發(fā)光效率Cd/A；
2、發(fā)射角度測量；
3、光譜&顏色測量@發(fā)射角；
4、CIE xyY測量；
5、視角測量；
6、IVL(電流—電壓—亮度)測量；
7、PL光致發(fā)光測量功能（有機、量子點(diǎn)、鈣鈦礦薄膜發(fā)射光譜和極化角度）；
8、EL電致發(fā)光測量功能（OLED\鈣鈦礦LED和其他發(fā)光器件）；
9、極化測量；
10、發(fā)射角對應的光譜和顏色；
11、可與Setfos組合，隨發(fā)射層進(jìn)行分析；
12、擬合發(fā)光器件的發(fā)射區、分子取向和發(fā)光方向。
