太陽(yáng)能電池瞬態(tài)光電性能測量系統(載流子遷移率測量系統，瞬態(tài)光電流測試系統、瞬態(tài)光電性能測量系統)，發(fā)光器件發(fā)光光譜分析系統以及相關(guān)器件的軟件模擬研發(fā)系統，對于光電器件微觀(guān)機理研究提供了有力的測試工具；多功能一體化高性能瞬態(tài)測試平臺，不但可以測量器件的載流子遷移率、載流子壽命、載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程、阻抗譜等，還可以對瞬態(tài)光電流譜TPC，瞬態(tài)光電壓譜TPV、調制光電流譜IMPS、瞬態(tài)光電壓譜IMVS等進(jìn)行測量分析，全面分析器件中的載流子特性和瞬態(tài)過(guò)程。

　　主要測量功能：

　　* 大功率點(diǎn)MMP、FF、Voc、Isc、VS 光強，遷移率(I-V測試 & I-V-L測試，空間電荷限制電流SCLC法)

　　* 載流子密度，載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程(瞬態(tài)光電流法 TPC)

　　* 載流子壽命，載流子符合動(dòng)力學(xué)過(guò)程(瞬態(tài)光電壓/瞬態(tài)開(kāi)路電壓法 TPV)

　　* 載流子遷移率(暗注入瞬態(tài)法 DIT，單載流子器件&OLED)

　　* 串聯(lián)電阻，幾何電容，RC時(shí)間(電壓脈沖法 Pulse Voltage)

　　* 參雜密度，電容率，串聯(lián)電阻，載流子遷移率(暗態(tài)線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 Dark-CELIV)

　　* 載流子遷移率，載流子密度(光照線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 Photo-CELIV)

　　* 載流子復合過(guò)程，朗之萬(wàn)函數復合前因子(時(shí)間延遲線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 Delaytime-CELIV)

　　* 不同工作點(diǎn)的載流子強度，載流子遷移率(注入線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 Injection-CELIV)

　　* 幾何電容，電容率(MIS線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 MIS-CELIV)

　　* 陷阱強弱度，等效電路(阻抗譜測試 IS)

　　* 遷移率，陷阱強弱度，電容，串聯(lián)電阻(電容VS頻率 C-f)

　　* 內建電壓，參雜濃度，注入勢壘，幾何電容(電容VS電壓 C-V)

　　* 點(diǎn)亮電壓(電流電壓照度特性 I-V-L)

　　* 發(fā)光壽命，載流子遷移率(瞬態(tài)電致發(fā)光法 TEL)

　　*  載流子遷移率(TEL瞬態(tài)電致發(fā)光，Photo-CELIV線(xiàn)性增壓抽取載流子)

　　*  OLED/鈣鈦礦LED發(fā)光特性測量(發(fā)光器件測量)；