詳情介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
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| 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 | | |
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太陽(yáng)能電池瞬態(tài)光電性能測量系統（載流子遷移率測量系統，瞬態(tài)光電流測試系統、瞬態(tài)光電性能測量系統），發(fā)光器件發(fā)光光譜分析系統以及相關(guān)器件的軟件模擬研發(fā)系統，對于光電器件微觀(guān)機理研究提供了幫助；多功能一體化測試平臺，不但可以測量器件的載流子遷移率、載流子壽命、載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程、阻抗譜等，還可以對瞬態(tài)光電流譜TPC進(jìn)行測量分析，研究器件中的載流子特性和瞬態(tài)過(guò)程。
主要應用：
* 無(wú)機半導體光電器件，有機半導體光電器件；
* 有機太陽(yáng)能電池OPV；
* 鈣鈦礦太陽(yáng)能電池Perovskite Solar Cell，鈣鈦礦LED；
* 無(wú)機太陽(yáng)能電池（例如：?jiǎn)尉Ч?、多晶硅、非晶硅等硅基太?yáng)能電池）；
* 染料敏化太陽(yáng)能電池DSSC；
主要測量功能：
* 大功率點(diǎn)MMP、FF、Voc、Isc、VS 光強，遷移率（I-V測試 & I-V-L測試，空間電荷限制電流SCLC法）
* 載流子密度，載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程（瞬態(tài)光電流法 TPC）
* 載流子壽命，載流子符合動(dòng)力學(xué)過(guò)程（瞬態(tài)光電壓/瞬態(tài)開(kāi)路電壓法 TPV）
* 載流子遷移率（暗注入瞬態(tài)法 DIT，單載流子器件&OLED）
* 串聯(lián)電阻，幾何電容，RC時(shí)間（電壓脈沖法 Pulse Voltage）
* 參雜密度，電容率，串聯(lián)電阻，載流子遷移率（暗態(tài)線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 Dark-CELIV）
* 載流子遷移率，載流子密度（光照線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 Photo-CELIV）
* 載流子復合過(guò)程，朗之萬(wàn)函數復合前因子（時(shí)間延遲線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 Delaytime-CELIV）
* 不同工作點(diǎn)的載流子強度，載流子遷移率（注入線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 Injection-CELIV）
* 幾何電容，電容率（MIS線(xiàn)性增加載流子瞬態(tài)法 MIS-CELIV）
* 陷阱強弱度，等效電路（阻抗譜測試 IS）
* 遷移率，陷阱強弱度，電容，串聯(lián)電阻（電容VS頻率 C-f）
* 內建電壓，參雜濃度，注入勢壘，幾何電容（電容VS電壓 C-V）
* 點(diǎn)亮電壓（電流電壓照度特性 I-V-L）
* 發(fā)光壽命，載流子遷移率（瞬態(tài)電致發(fā)光法 TEL）
* 載流子遷移率（TEL瞬態(tài)電致發(fā)光，Photo-CELIV線(xiàn)性增壓抽取載流子）
* OLED/鈣鈦礦LED發(fā)光特性測量（發(fā)光器件測量）；
測量技術(shù)： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲線(xiàn)，通過(guò)曲線(xiàn)可以得到樣品的電流電壓特性關(guān)系、電流電壓與光強的特性關(guān)系；
*對于有機半導體材料可通過(guò)空間電荷限制電流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和遷移率等；|
2）瞬態(tài)光電流響應法（Transient Photocurrent ）：研究載流子動(dòng)力學(xué)過(guò)程和載流子密度等；
3）瞬態(tài)光電壓（Transient Photovoltage）：研究載流子壽命和復合過(guò)程；4) 雙脈沖瞬態(tài)光電流（Double Transient Photocurrent）：分析電荷載流子俘獲動(dòng)態(tài)過(guò)程；5) 暗注入瞬態(tài)法（Dark Injection）：對于單載流子器件和OLED，研究其載流子遷移率；6) 電壓脈沖法（Voltage Pulse）：串聯(lián)電阻、幾何電容和RC效應分析；
7) 暗態(tài)線(xiàn)性增壓載流子瞬態(tài)法（Dark-CELIV）：參雜濃度、相對介電常數、串聯(lián)電阻、電荷載流子遷移率測量；
8) 光照線(xiàn)性增壓載流子瞬態(tài)法（Photo-CELIV）：提取有機太陽(yáng)能電池片內載流子遷移率mobility ，以及載流子濃度分析等；9) 時(shí)間延遲線(xiàn)性增壓載流子瞬態(tài)法（Delaytime-CELIV）：復合動(dòng)態(tài)過(guò)程分析和郎之萬(wàn)復合因子分析等；
10）注入線(xiàn)性增壓載流子瞬態(tài)法（Injection-CELIV）：電荷載流子濃度和電荷載流子遷移率測量分析；
11）MIS-CELIV：幾何電容和相對介電常數分析；
12）阻抗譜測量（Impedance Spectroscopy）：器件等效電路分析等；
13）電容頻率測量法（C-f）: 遷移率、陷阱、幾何電容和串聯(lián)電阻測量；
14）電容電壓測量法（C-V）：內建電壓、參雜濃度和幾何電容等測量；15）瞬態(tài)電致發(fā)光測試（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的載流子，磷光壽命測量；
太陽(yáng)能電池和OLED測試示意圖
測量功能
技術(shù)規格
• 采樣率：60MS/s
• 時(shí)間分辨率：16ns
• 頻率范圍：10mHz to 10MHz
• 電流分辨率：＜100pA
• LED上升時(shí)間：100ns
• 電流范圍：100mA
• 電壓范圍：±12V
可選功能
• Solar Cell Version or/and OLED Version
• Multi-LED模塊:360nm~1100nm for EQE
• 變溫測試臺：-120 °C to 150 °C（多種可選）
• 光譜儀：OLED器件發(fā)光光譜測量
• SMU擴展模塊: 電壓±60V，電流分辨1pA
應用領(lǐng)域
• 鈣鈦礦太陽(yáng)能電池PSCs
• 有機、量子點(diǎn)太陽(yáng)能電池
• 染料敏化電池DSSC
• 疊層太陽(yáng)能電池
• CIGS, CdTe, CZTS太陽(yáng)能電池
• 鈣鈦礦和量子點(diǎn)LED器件
• 有機發(fā)光器件OLED
• MIS器件和LECs
另外，我公司提供其他太陽(yáng)能電池測試設備：
1.太陽(yáng)能電池光譜響應測試系統、IPCE測試系統、量子效率測試系統；
2.太陽(yáng)能電池測量系統（光譜響應測試系統,IPCE測試系統,量子效率測試系統，I-V曲線(xiàn)測量系統），太陽(yáng)能電池測試儀；
3.太陽(yáng)能電池I-V曲線(xiàn)測量系統；
4.I-V 數據采集系統；
5.大面積太陽(yáng)能模擬器/太陽(yáng)光模擬器/雙燈太陽(yáng)光模擬器；
6.太陽(yáng)能電池分選機；
7.太陽(yáng)能電池I-V測試儀；
8.分光輻射度計，
9.參考電池/標準電池，
10.有機太陽(yáng)能電池載流子遷移率測量系統；
11.鈣鈦礦太陽(yáng)能電池載流子遷移率測量系統；
