描述:高場(chǎng)寬頻譜介電測量系統當通過(guò)LCR Meter或者分析儀(Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A)測量介電常數時(shí),加載電壓通常1V左右;然而,很多壓電陶瓷(PZT)和高分子(PVDF)對于加載的電場(chǎng)具有非線(xiàn)性響應;通常它們的介電常數和損耗因子在高壓下變得更低。
品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
高場(chǎng)寬頻譜介電測量系統
高場(chǎng)寬頻譜介電測量系統當通過(guò)LCR Meter或者分析儀(Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A)測量介電常數時(shí),加載電壓通常1V左右;然而,很多壓電陶瓷(PZT)和高分子(PVDF)對于加載的電場(chǎng)具有非線(xiàn)性響應;通常它們的介電常數和損耗因子在高壓下變得更低。
非線(xiàn)性介電響應:
-當通過(guò)LCR Meter或者分析儀(Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A)測量介電常數時(shí),加載電壓通常1V左右;然而,很多壓電陶瓷(PZT)和高分子(PVDF)對于加載的電場(chǎng)具有非線(xiàn)性響應;通常它們的介電常數和損耗因子在高壓下變得更低。
-在很多應用中,例如電容器和驅動(dòng)器,介電層>10V/um或者100V/um的高電場(chǎng)下工作,它們的有效介電常數和損耗tanδ是非常不用于普通LCR Meter和阻抗分析儀的測量值@1Vrms。
-在介電測試過(guò)程中直接加載一個(gè)高壓信號,如果樣品突然發(fā)生介電擊穿,這對于昂貴的LCR Meter有很大的損壞風(fēng)險。
因此美國Polyk Technologies公司研發(fā)了此款寬頻譜介電測量系統,有效的避免了上述問(wèn)題的發(fā)生。
高場(chǎng)寬頻譜介電測量系統
技術(shù)規格:
1)大電壓:±4000V;
2)大電流:±20mA;
3)頻率范圍:100Hz to 1MHz;
4)電容范圍:100pF to 100nF;
5)溫度范圍:-184℃ to 250℃;
6)溫度控制腔室:-75℃ to 200℃;(可選)
7)溫度控制腔室:室溫 to 1000℃;(可選)
8)寬頻范圍:20 Hz to 1 MHz or 110 MHz, or 0.01 Hz to 1 MHz(與配備的阻抗分析儀相關(guān));(可選)
9)Large AC信號單元;(可選)
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