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描述：OLED發(fā)光效率測量系統,我公司推出OLED光譜性能測試系統，OLED發(fā)射光譜測量系統，OLED光譜分析儀，OLED光電性能測試系統（IVL曲線(xiàn)，外量子效率EQE），OLED載流子遷移率測量系統、光電性能評估系統以及軟件模擬研發(fā)系統，為廣大科研工作者和研發(fā)機構提供了有效的測試工具。
| 品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 測量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
| 應用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
OLED發(fā)光效率測量系統
產(chǎn)品名稱(chēng)：OLED/LED電致發(fā)光/光致發(fā)光測量系統，EL/PL測量系統，多角度光譜測量系統，發(fā)光效率測量系統，發(fā)光光譜測量系統，外量子效率測量系統。
Phelos用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其他發(fā)光器件的發(fā)射光譜特性和極化角，同時(shí)也可測量器件的s和p偏振光譜、發(fā)射光譜與角度的關(guān)系，計算出發(fā)射層中激子的發(fā)光角度及位置分布。
技術(shù)優(yōu)勢
• 角度依賴(lài)的PL光致發(fā)光譜分析
• 角度依賴(lài)的EL電致發(fā)光譜分析
• 角度依賴(lài)的發(fā)光分析
• 兼容頂發(fā)光和底發(fā)光結構的OLED的及其他發(fā)光器件
• p- and s-偏振態(tài)檢測
• 偏振角度連續掃描
• 發(fā)光層中發(fā)光偶極子檢測及偶極子趨向分析
• 兼容各種幾何尺寸樣品
• 樣品便捷對準
• 可與Setfos結合，對發(fā)光層進(jìn)行分析
測量功能
• 顏色效率分析
• 可視角分析
• 量子效率EQE
• 流明效率lm/W
• 發(fā)光效率Cd/A
• 發(fā)光區域擬合
• 發(fā)光趨向分析
• 發(fā)光特性角度依賴(lài)分析
• 光譜和顏色VS. 發(fā)射角
• 發(fā)光層中偏振態(tài)分析
• 散射特性分析
• 工作點(diǎn)
• 效能 (cd/A)
• CIE 坐標
• 色溫和顯色指數等分析
• 電流-電壓-亮度(J-V-L)曲線(xiàn)測量
• 光譜輻照度/強度
• 輻射強度
• 亮度
技術(shù)規格
Photoluminescence and Electroluminescence | |
角度范圍 | -90° to +90°, top and bottom emission |
角度分辨率 | < 0.5° |
光譜范圍 | 360 to 1100 nm |
光譜分辨率 | 2.5 nm * |
信噪比 | 300:1 |
電壓范圍 | ± 20 V |
電流范圍 | ± 120 mA |
*小分辨電流 | < 100 pA |
伺服偏振器 | 0 to 360° (continuous) |
樣品臺尺寸 | 40 x 40 mm2 |
PL 激發(fā)光 | 275 nm to 405 nm(默認365nm) |
PL 激發(fā)光光斑 | 5 x 3 mm2 |
設備重量 | 18 kg |
設備尺寸 | 50 x 29 x 24 cm3 |
測試模式
測量實(shí)例
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